Nikon L200擁有CFI60光學系統用于集成電路檢查顯微鏡，由此獲得全所未有的高對比圖像。使得物鏡不僅工作距離更長，而且" target="_blank" href="http://m.nunosafotografia.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">數值孔徑更高：符合SEMI S293A，S8-95S設計；利用" target="_blank" href="http://m.nunosafotografia.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">計算機輔助工程系統，對機身進行防震設計；具有全面的防污染措施。

適用于科學研究分析，材料分析，微電子觀察，TFT 液晶檢查，4寸 5寸 6寸 8寸半導體晶圓檢查