德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機 PI1M 27°x17°

德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機 PI1M 27°x17°

Optris PI 1M 是一款短波長紅外相機，在測量熱金屬、鋼、陶瓷和半導體的表面溫度方面表現*，擅長對具有挑戰性的物體進行非接觸式熱成像。optris PI 1M 熱像儀特別適用于金屬加工應用中的溫度測量。它在 1 μm 的短測量波長下表現出的發射率明顯高于在傳統紅外長波長范圍內進行測量時的發射率。在熱過程可視化的同時，快速傳感器電子元件可實現低至 1 ms 的短反應時間。它通過配備 USB 以及模擬和數字過程接口，實現無縫集成到控制系統和制造過程中。

高動態 CMOS 探測器，分辨率高達 764 x 480 像素

1 μm 的光譜靈敏度

450°C 至 1800°C 的寬測量范圍，無子范圍

高達 1 kHz 的幀速率，可實現快速處理

模擬和數字輸出，響應時間為 1 ms

線掃描功能

Optris PI 1M 是一款結合了創新、經濟性和精度的短波長紅外相機。它擅長對具有挑戰性的物體進行非接觸式熱成像，在短波長紅外范圍 （1M： 0.85 – 1.1 μm） 內工作。這款前瞻性紅外熱像儀經過專門設計，可捕獲測量數據，以便對熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體進行的表面溫度分析。它憑借其寬廣的高溫測量范圍、*的精度和可定制的視場配置，滿足了各種行業的嚴格要求。

許多由非閃亮材料制成的測量物體無論其表面一致性如何，都表現出較高且相對恒定的發射率，尤其是在長波光譜范圍內。然而，金屬和有光澤的材料在長紅外波長下通常具有低發射率。長波長紅外帶寬的低發射率會導致測量結果變化且不可靠。此外，Optris PI 1M 專為金屬基增材制造應用而設計。它與可選的陷波濾光片兼容，使紅外熱像儀幾乎適用于所有激光加工應用。

短波長 PI 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數金屬材料的*發射率一致，簡化了遠程溫度測量。此外，根據普朗克輻射定律，在短波長范圍內發射的紅外輻射呈指數級增長。因此，線性發射率問題對短波長下溫度測量結果的可重復性影響較小。這提高了溫度測量的可靠性和準確性，特別是使用PI 1M紅外熱像儀時，特別是對于金屬材料。因此，對于高溫下光亮材料的非接觸式溫度測量，建議盡可能使用短波紅外熱像儀，因為它們的溫度測量范圍更廣，更適合光亮表面。PI 1M 紅外熱像儀在德國精心設計和制造，以滿足具有挑戰性的工業應用需求。它在精度、準確度和可重復性方面越了長波長紅外熱像儀，使其成為在苛刻環境中進行高性能溫度測量的*。